<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Surface on Cozy Infrared Home Heating</title>
		<link>http://cozy-heat-ir.com/fa/tags/surface/</link>
		<description>Recent content in Surface on Cozy Infrared Home Heating</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>fa</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Thu, 02 Jul 2026 09:52:52 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://cozy-heat-ir.com/fa/tags/surface/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>هیتر برای اندازهگیری کشش سطحی ویفر</title>
				<link>http://cozy-heat-ir.com/fa/posts/wafer-surface-tension-measurement-heater/</link>
				<pubDate>Thu, 02 Jul 2026 09:52:52 +0800</pubDate>
				<guid>http://cozy-heat-ir.com/fa/posts/wafer-surface-tension-measurement-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://cozy-heat-ir.com/images/0a976f8a438e1a813cc995e9355a4471.png&#34; alt=&#34;هیتر برای اندازهگیری کشش سطحی ویفر&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;در فرآیند لیتوگرافی، وجود نقاط داغ با دمای ۰.۵ درجه سانتی‌گراد روی سطح ویفر، می‌تواند به طور مخفیانه باعث از بین رفتن حاشیه‌های لازم برای کنترل کیفیت سطح ویفر شود. روش‌های گرم‌کردن نرم و سخت، ناهمواری‌های دمایی را تحمل نمی‌کنند؛ هرگز اینطور نبوده و هرگز هم نخواهد بود. ما یک دستگاه اندازه‌گیری تنش سطحی ویفر طراحی کرده‌ایم تا این ناهمواری‌ها را از بین ببرد؛ این دستگاه، یکنواختی دما را در محدوده ±۰.۱ درجه سانتی‌گراد حفظ می‌کند.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
